Functional Coverage

바로 밑에 DVCON 2016리뷰가 있는 걸 보니, blog에 얼마나 무관심했는지 약간 죄책감이 듭니다만 꺼리가 생겼으니 써야겠죠. DVCON(Design & Verification Conference)은 산업계에서 주도해서 열고 있는 회의로, DVCON을 주최하고 있는 Accellra(http://accellera.org/)가 SystemC, VHDL, SystemVerilog, UVM, IP-XACT, UPF등의 굵직굵직한 산업계의 주요 표준을 만들고, IEEE-SA와의 협력을 통해서 국제 표준으로 등록하고 있는 단체라는 점을 고려하면 그 성격을 파악할 수 있을 것입니다.

검증에 있어서 고려되어야 하는 사항중에 하나는 “언제 검증을 그만 둘 것인가”입니다. 너무나도 쉬운 질문이지요? 뭐, 검증할 부분을 다하면 검증을 그만 두면 되죠. 그럼 질문을 바꿔보겠습니다. “검증할 부분에 대하여 모두 검증했는지는 어떻게 알지요?” 그것이 오늘 말씀드릴 coverage에 대한 부분입니다. 사실 이쪽 계통에서 coverage라는 이름으로 검색하면 처음에 나오는 것은 아마도 falut coverage/test coverage일 것입니다. DFT /Testing 부분에서 사용하는 용어인데, 만들어진 test vector가 얼마나 많은 tr. 을 천이시켜 볼 수 있느냐를 나타내는 말이죠(값을 천이시킬 수 있어야지만, stuck-at-0/stuck-at-1 fault를 잡아낼 수 있으니까요). 여하튼.. 이때 test coverage는 입력된 테스트 벡터에 의하여 천이 시킬 수 있는 transistor의 비율을 나타냅니다.